| 01.11.2005 Новейшее оборудование JEOL и NIKON: растровые и просвечивающие электронные микроскопы и др. |
|---|
1.Latest Technology on Transmission Electron Microscope and its Applications to Nano-Materials. Г-н Тецуо Оикава (фирма JEOL).
2. Advanced Scanning Electron Microscope for Nano Tech Research. Г-н Акира Кабая (фирма JEOL).
3.Introduction on New Electron Probe Micro Analyzer and its Advansed Application. Г-н Йошиаки Оно (фирма JEOL).
4. Nikon Optical Microscope: Introduction of the latest models. Г-н Тфкахару Сасаока (фирма Nikon).
Приглашаются все заинтересованные лица.
Иностранный отдел |
| |
Виртуальный тур и фильмы о факультете
Вестник МГУ. Серия 3.
связаться с нами